Lähivälja mikroskoopias saadakse info pinna struktuuri kohta tema skaneerimisel nanomõõtmelise otsikuga optilise kiuga. Lähivälja mikroskoopia lahutusvõime on suurem kui kaugvälja mikroskoopias.
Lähivälja meetodil saadud pilt CD kettast. Autor Rünno Lõhmus.
